135-0001-7008
2023年07月04日16:46 光譜分析論文
純錫主要應(yīng)用于各種金屬制備、鑄造和合金制造,經(jīng)常在板柵冶煉過程中隨時加錫,特別是Pb-Ca合金,由于用于免維護電池,對雜質(zhì)含量要求較嚴,一些有害雜質(zhì)如果含量超標會使電池的質(zhì)量受到嚴重影響。純錫中雜質(zhì)含量的測定迄今為止還沒有簡便、成熟、快速的方法,針對此問題,經(jīng)過多次反復(fù)試驗,采用直讀光譜儀間接測定純錫中Cu、Ag、Bi、As、Sb、Zn六種元素含量,收到了較為理想的效果。
一、儀器與分析條件
1、光譜儀:SPECTROLAB M 型光譜儀
2、激發(fā)光源:火花光源,頻率200HZ
3、氬氣:高純氬氣
二、樣品制備
由于直讀光譜儀只限于鉛及鉛合金中各種雜質(zhì)的分析,純錫不能直接用光譜儀進行測定,必須將純錫轉(zhuǎn)變?yōu)殂U基合金,而且轉(zhuǎn)變鉛基合金之后的元素含量范圍不得大于儀器通道的含量范圍,樣品必須均勻,為此我們分別作了如下實驗:
樣品溶解:稱取一定量的純錫樣品約20g左右和純鉛300g左右,先將純鉛置電爐上加熱溶解后,再放入純錫樣品(塊狀),待純錫溶解完全后,立即攪拌均勻,倒出鑄成鉛錠,備用。
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